?絕緣繞組線擊穿電壓試驗裝置的技術(shù)參數(shù)
絕緣繞組線擊穿電壓試驗裝置用于絕緣繞組線擊穿電壓測試。依據(jù)GB19212附錄K.2.1，GB4074.5
試驗方法13，IEC60950附錄U.2.1測試要求設(shè)計制造;
技術(shù)參數(shù)：
1. 裝置配備：0.1mm以下繞組線試驗裝置、0.1-2.5mm繞組線試驗裝置、2.5mm以上繞組線試驗裝置
2.
A型：0.1mm以下繞組線試驗裝置：直徑25±1mm拋光金屬圓棒試驗裝置如GB4074.5圖1所示，可施加負(fù)荷符合GB4074.5表2要求(配標(biāo)準(zhǔn)重物);
3.
B型：0.1-2.5mm繞組線試驗裝置：繞組線扭絞裝置如GB4074.5圖2所示，可施加負(fù)荷及扭絞數(shù)符合GB4074.5表3要求(配標(biāo)準(zhǔn)重物)
4.
C型：2.5mm以上繞組線試驗裝置：直徑50±2mm及25±1mm圓棒(繞制絕緣線用)，金屬珠槽裝置如GB4074.5圖3所示，金屬珠槽(透明絕緣)直徑至少80mm，金屬珠深度至少100mm，金屬珠直徑不得大于2mm
5. 配備試驗臺架與試驗容器
SH9336A
SH9336B
SH9336C